進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測試時(shí)，繼電保護(hù)測試儀的開入量與保護(hù)裝置動(dòng)作與否、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了，但繼保測試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn)，檢查開入接線、保護(hù)動(dòng)作均良好，單獨(dú)短接開入量進(jìn)行測試時(shí)也顯示正常。 針對此類問題，我們可以從開入量的原理入手進(jìn)行分析。　　

△ 圖1 開入量端子原理圖　　

△ 圖2 無電位接點(diǎn)        △ 圖3 帶電位接點(diǎn)

　　圖1以開入A舉例說明，其他路開入量與開入A原理相同，并共用電源和COM端。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1，圖1中O1為光耦，光耦負(fù)邊通至測試裝置主板，當(dāng)光耦由通變斷或由斷變通，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時(shí)，測試儀會(huì)記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時(shí)刻。

　　此電路的工作原理： O1最小導(dǎo)通電流為Imin，最大工作電流為Imax，回路電流為I，當(dāng)I≥Imin，時(shí)，O1導(dǎo)通，IImax時(shí)，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)(圖 2)和帶電位接點(diǎn)(圖3)兩種情況進(jìn)行說明。

　　直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線，未引入直流電源回路。 試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)兩種接法：

　　1、取1、2兩點(diǎn)接入測試裝置的開入量COM、A，由于無電位，兩點(diǎn)接線可以任意交換。 此時(shí)，若開關(guān)為分，電路開路， I=0，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號時(shí)，圖中開關(guān)會(huì)由分到合，此時(shí) ，(U1、R1、R2的值固定)光耦導(dǎo)通，測試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測試時(shí)通常不會(huì)出現(xiàn)異常。

　　2、當(dāng)從1、3兩點(diǎn)接入時(shí)，回路中多串入一個(gè)電阻R，此時(shí) ，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I

　　2、COM接點(diǎn)1，A接點(diǎn)3，此種情況開關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時(shí)，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時(shí)電流 ，光耦還是不通，測試裝置無法記錄動(dòng)作，因此此種接法錯(cuò)誤。

　　3、COM接點(diǎn)2，A接點(diǎn)3，此種情況開關(guān)未閉合時(shí)，電流 ，若R較小，能使I≥Imin，則光耦導(dǎo)通，當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時(shí)，電阻R上的電壓UR=U2，電流 ，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌ǎ瑺顟B(tài)有變化，測試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大，使得開關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通，此種情況無論開關(guān)是否閉合，光耦均不通，測試裝置無法正常記錄保護(hù)動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測試均取決于 R的大小，一般不建議采用。

　　除此之外，還有其他接線方法以及純電位高低的測試，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。

　　綜上所述，現(xiàn)場試驗(yàn)時(shí)，無論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn)，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式，通常不會(huì)出現(xiàn)異常。 無法正常記錄時(shí)，可以甩開保護(hù)接線，在測試裝置運(yùn)行時(shí)用短接線直接對 A和COM短接，若測試裝置能正常記錄動(dòng)作，則可以排除繼保測試儀的故障。